在质谱中，当干扰离子的质荷比 (m/z) 与分析物离子重叠时，会发生光谱干扰。这些干扰是 ICP-MS 的主要限制。幸运的是，有一种更好的方法。扇形场质谱仪的高质量分辨潜力可通过利用质荷比的微小差异，从物理上区分分析物和干扰物。因此，无论样品基质如何，高分辨率 (HR) ICP-MS 均可对几乎整个周期表的元素浓度进行定量并确定元素的精确同位素比值。

高分辨率 ICP-MS 的简单性使其具有极的性能，而不会影响简单可靠的方法开发。这使得元素系列成为研究和计量机构以及进常规分析实验室的平台。

ELEMENT 2 HR-ICP-MS

Thermo Scientific ELEMENT 2型高分辨电感耦合等离子体质谱仪是获得认可的痕量元素分析和定量的高效技术。其应用范围从半导体工业到地质和环保分析、从生物研究到材料科学。 ICP-MS最严重的限制是元素信号的多原子干扰，这种干扰主要来自氩或样品基质。高质量分辨率是识别和消除干扰的标准。即使没有样品制备步骤，消除干涉也能准确可靠地进行痕量级多元素定量分析。

ELEMENT XR HR-ICP-MS

Thermo Scientific ELEMENT XR高分辨电感耦合等离子体质谱仪可以同时分析周期表中的几乎所有元素，浓度范围从mg/L到pg/L ；兼容无机和有机溶液的基体和固体样品。利用高分辨率直接分析有干扰的同位素；的确信不含干扰的元素图谱；瞬时信号的多元素检出器；并能与多种进样和分离技术联用，例如激光进样。

ELEMENT XR主要特点：

线性范围宽：线性范围达12个数量级，不同模式自动切换校正；
灵敏度高：可使用赛默飞的Jet接口技术，提供的灵敏度；
具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝，采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。

ELEMENT 2主要特点：

具备多元素分析能力

多元素检测器具备处理瞬态信号（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光烧蚀）的速度
从超痕量到基质组分、从mg/L到亚pg/L浓度范围的覆盖周期表的无干扰测量
与无机和有机固体以及几乎所有溶液基质兼容

全自动的常规分析

自动调节所有参数，包括透镜、气流和炬位，以获得可重复而可靠的系统设置
全面、可定制的质量控制系统
可靠耐用，可作为全年无休的生产控制工具，样品通量

具有灵活性和易用性的研究工具

拥有权限进入方法开发的所有仪器参数
具有高质量分辨率，可识别受干扰的同位素光谱：生成明确的元素光谱
无论是否存在干扰情况，也能获得高精度的同位素比检测
热和冷等离子体状态
高稳定性的同位素比

高分辨率 ICP-MS 的简单性使其具有极的性能，而不会影响简单可靠的方法开发。这使得元素系列成为研究和计量机构以及进常规分析实验室的平台。

Thermo Scientific™ Element 2™ 和 Element XR™ 高分辨率 ICP-MS 系统涵盖 mg/L 至亚 pg/L 的浓度范围—尤其适合半导体、环境监测、核科学、地球科学、材料科学等各个领域

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简要描述：ThermoScientific™Element2™和ElementXR™高分辨率ICP-MS提供了同类的干扰消除能力，可获得水平的可靠性

ELEMENT 2 HR-ICP-MS

ELEMENT XR HR-ICP-MS

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