简要描述：XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构（如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等）力的方法之一

理学MiniFlex X射线衍射仪（XRD）具有历史意义，因为它是台商用台式（台式或台式）X射线衍射仪。1973 年推出时，最初的 Miniflex™ 台式 XRD 的尺寸约为当时传统 X 射线衍射 （XRD） 设备的十分之一，而且成本要低得多。最初的仪器（第 1 代）及其于 1976 年推出的继任者（第 2 代）采用了水平测角仪，数据输出由内部带状图记录仪提供。第三代（第 3 代）台式衍射仪于 1995 年推出，称为 Miniflex+。它使 X 射线功率大幅提高到 450 瓦（通过在 30kV 和 15mA 下运行）和 Windows PC 计算机控制。Miniflex+ 和后续几代台式衍射仪均采用垂直测角仪，并允许使用自动进样器。第四代（第 4 代）Miniflex II 台式 XRD 于 2006 年推出，它改进了单色 X 射线源和 D/teX Ultra 1D 硅条探测器。第五代（第 5 代）台式 XRD 于 2012 年推出，在此基础上构建了 600W 的可用功率和新的粉末衍射软件。

主要特点：
台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪。

• 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的组合刷新了X射线行业的基准；
• 外箱采用具有高度安全性的密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；
• 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；
• 具有的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。

技术参数

• 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。
• 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII功率450W）。
• 测角仪精度高、放置样品方便。
• 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。
• 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。
• 软件丰富
• 附件可配：

• 计数端单色器，扣除Kβ、荧光X射线，提高P/B比
• 旋转样品台
• 隔绝空气。水蒸气样品台
• 六样品自动交换器
• 高速一维阵列探测器D/teX Ultra2

主要的应用软件有：

• 多重记录
• 定性分析
• 定量分析
• ICDD数据库管理
• 环境粉尘专用定量软件

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

技术参数

• X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
• 测角仪为水平测角仪
• 测角仪最小步进为1/10000度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学）
• 测角仪配程序式可变狭缝
• 自动识别所有光学组件、样品台（理学）
• CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学）
• 小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
• 多用途薄膜测试组件
• 微区测试组件、CBO-F微区光学组件
• In-Plane测试组件（理学）
• 入射端Ka1光学组件
• 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
• 二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)
• 智能的测量分析软件SmartLab Guidance（）

主要的应用有：

• 粉末样品的物相定性与定量分析
• 计算结晶化度、晶粒大小
• 确定晶系、晶粒大小与畸变
• Rietveld定量分析
• 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
• In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
• 小角散射与纳米材料粒径分布
• 微区样品的分析
• 方便的无损样品制备。

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

技术参数

• X射线发生器功率为3KW
• 测角仪为水平测角仪
• 测角仪最小步进为1/10000度
• 测角仪配程序式可变狭缝
• 高反射效率的石墨单色器
• CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学）
• 小角散射测试组件
• 多用途薄膜测试组件
• 微区测试组件
• In-Plane测试组件（理学）
• 高速探测器D/teX-Ultra
• X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
• 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要特点：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

• 粉末样品的物相定性与定量分析
• 计算结晶化度、晶粒大小
• 确定晶系、晶粒大小与畸变
• Rietveld结构分析
• 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
• In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
• 小角散射与纳米材料粒径分布
• 微区样品的分析

主要的应用有：

• 粉末样品的物相定性与定量分析
• 计算结晶化度、晶粒大小
• 确定晶系、晶粒大小与畸变
• Rietveld定量分析
• 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
• In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
• 小角散射与纳米材料粒径分布
• 微区样品的分析
• 方便的无损样品制备。