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Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统能提供全自动、高通量的多技术分析,并可保持研究级结果的高质量水平。ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身,用户因此能够进行真正意义上的相关性分析,从而为微电子、超薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。
Nexsa 能谱仪具有灵活性,可限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时,以多重整合技术选项的形式提供灵活性,从而实现真正意义上的相关性数据分析和高通量。
可选的升级:可将任何全自动化集成技术添加到您的分析中。触动按钮即可运行。
借助 SnapMap 的光学视图,聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域,同时生成聚焦的 XPS 图像,以进一步定义您的实验。

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