24 小时销售热线18117305890
产品中心

Product

当前位置:首页  /  产品中心  /  表面分析仪器  /  TOF-SIMS离子质谱

  • TRIFT V nanoPHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪
    TRIFT V nanoPHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪

    产品型号

    TRIFT V nano

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    4306

    产品描述

    PHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪是一种表面敏感的技术,提供表面分子,元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素,包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上,该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率(在实践中通常是大约 10000amu)。
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

总机:021-80394499

邮箱:shanghai@uzong.cn

地址:上海市闵行区春申路2328号张慕工业基地6号楼

关注公众号

版权所有 © 2026 上海禹重实业有限公司    备案号:沪ICP备13042218号-7

技术支持:化工仪器网    sitemap.xml

TEL:021-80394499

关注公众号