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Versaprobe II厂商性质
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4556产品描述
PHI 5000 Versaprobe II X射线光电子能谱仪是材料科学和发展的领域中Z广泛使用的表面分析技术。其原理是利用X射线束（一般会使铝阳极或镁阳极）作为入射源，照射在样品表面导致让光电子从原子的核心层被激发出。根据测得的光电子所发出的电子动能，再依照能量守恒定律就可以知道电子的结合能，从而也就可知道样品表面是何物质。
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JXA-8230厂商性质
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4345产品描述
日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。
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FastScan厂商性质
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4473产品描述
布鲁克 Dimension FastScan 扫描探针显微镜在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和的仪器性能前提下，Z大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
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Titan ETEM G2厂商性质
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6260产品描述
FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜是我们的环境 TEM 平台，设计用来观测功能性纳米材料及其随着时间的推移对气体和温度刺激的响应。凭借*的差动泵目镜，标本区可变身为实验室，展开对催化剂微粒、纳米器件和其他材料的研究，进而在原子级别洞察表面和界面形态及相互作用。在需要时，Titan ETEM 还可作为标准 S/TEM 开展原子级别成像。
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Nova Nano SEM厂商性质
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6132产品描述
FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜该产品是世界上*款可以对有机材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有电荷积累的样品和/或污染性样品进行超高分辨表征的低真空场发射扫描电子显微镜（FEG-SEM）。作为FEI公司市场的众多设备中的一员，Nova NanoSEM为用户在纳米研究、开发与生产的相关工作提供了更多的可能。
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