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  • MultiMode 8布鲁克 MultiMode 8 高分辨扫描探针显微镜
    MultiMode 8布鲁克 MultiMode 8 高分辨扫描探针显微镜

    产品型号

    MultiMode 8

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    2308

    产品描述

    布鲁克 MultiMode 8 高分辨扫描探针显微镜系统的性能源于其紧凑坚固的机械设计与*的低噪音SPM控制电路。SPM系统性能的优劣很大程度取决于样品与探针之间的机械路径长度,路径越短受声学和振动噪音的影响越小,同时受到热漂移的影响也越小。另外SPM各功能部件组装稳定性也会影响仪器性能。
  • Dimension Edge布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜
    Dimension Edge布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜

    产品型号

    Dimension Edge

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    2461

    产品描述

    布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜的设计系统能从上到下产生低漂移低偏离数据,可以在几分钟内完成且达到可发表的数据标准,而不再需要几小时,价格也都低于对于此类程序的预算。特别的是,集成了视觉反馈和预配置功能使得更轻易地得到专家水平的测量结果,也使得*的大样本原子力显微镜的功能和技术可以被用于每个研究室和用户。
  • JXA-8530F日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪
    JXA-8530F日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪

    产品型号

    JXA-8530F

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    3809

    产品描述

    日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。
  • EscaLab 250Xi赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪
    EscaLab 250Xi赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪

    产品型号

    EscaLab 250Xi

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    6424

    产品描述

    赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器,它可以用于研究各种固体材料样品表面(1-10nm厚度)的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息;通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息;利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。
  • Quantera IIPHI Quantera II X射线光电子能谱仪
    Quantera IIPHI Quantera II X射线光电子能谱仪

    产品型号

    Quantera II

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    3134

    产品描述

    PHI Quantera II X射线光电子能谱仪是Ulvac-Phi公司以在业界获得非常成绩的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研发的XPS分析仪器,其革命性超卓技术包括有:一个*微集中扫描的X射线来源,的双光束的电荷中和技术,在极低电压下仍可保持高性能的离子束源以进行XPS的深度分析
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