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  • MICROLAB 350赛默飞 MICROLAB 350场发射俄歇电子谱仪
    MICROLAB 350赛默飞 MICROLAB 350场发射俄歇电子谱仪

    产品型号

    MICROLAB 350

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    2346

    产品描述

    赛默飞 MICROLAB 350场发射俄歇电子谱仪是一款高性能的,具有高灵敏度和高能量分辨率扫描俄歇电子能谱仪(AES)。 SEM分辨率7纳米和扫描俄歇映射(SAM)分辨率12纳米。
  • 700XiPHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针
    700XiPHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针

    产品型号

    700Xi

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    2955

    产品描述

    PHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针提供高性能的俄歇(AES)频谱分析,俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括:纳米材料,催化剂,金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能,和响应了用户所要求以提高二次电子(SE)成像性能和高能量分辨率光谱。
  • TRIFT V nanoPHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪
    TRIFT V nanoPHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪

    产品型号

    TRIFT V nano

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    4306

    产品描述

    PHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪是一种表面敏感的技术,提供表面分子,元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素,包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上,该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率(在实践中通常是大约 10000amu)。
  • 4700PHI 4700 AES俄歇分析仪
    4700PHI 4700 AES俄歇分析仪

    产品型号

    4700

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    1784

    产品描述

    PHI 4700 AES俄歇分析仪在开发新材料及薄膜制程上,为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决工艺流程的问题,材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。
  • Nexsa赛默飞 Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 XPS
    Nexsa赛默飞 Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 XPS

    产品型号

    Nexsa

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    2553

    产品描述

    赛默飞 Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统能提供全自动、高通量的多技术分析,并可保持研究级结果的高质量水平。ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身,用户因此能够进行真正意义上的相关性分析,从而为微电子、超薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。
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