24 小时销售热线18117305890
产品中心

Product

当前位置:首页  /  产品中心  /  表面分析仪器  /  

  • JXA-8530F Plus日本电子 电子探针显微分析仪
    JXA-8530F Plus日本电子 电子探针显微分析仪

    产品型号

    JXA-8530F Plus

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-08-05

    浏览次数

    184

    产品描述

    2003年日本电子推出了世界商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了的赞誉。研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus,电子光学系统有了很大的改进,新的软件能提供更高的通量,并保持着的稳定性,能实现更广泛的EPMA应用。
  • JXA-8230日本电子 电子探针显微分析仪
    JXA-8230日本电子 电子探针显微分析仪

    产品型号

    JXA-8230

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-08-05

    浏览次数

    211

    产品描述

    日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能满足多种需求的强力分析工具之一。
  • PHI Quantera IIULVAC-PHI 扫描聚焦XPS微探针
    PHI Quantera IIULVAC-PHI 扫描聚焦XPS微探针

    产品型号

    PHI Quantera II

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2026-08-07

    浏览次数

    230

    产品描述

    PHIQuanteraII扫描XPS微探针是建基于业界荣获最多殊荣的Quantum2000和QuanteraSXM之上研发的XPS分析仪器,其革命性的技术包括:微聚焦X-ray源,可以得到小至7.5μm的聚焦X-ray
  • 4700PHI 4700 AES俄歇分析仪
    4700PHI 4700 AES俄歇分析仪

    产品型号

    4700

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    1943

    产品描述

    PHI 4700 AES俄歇分析仪在开发新材料及薄膜制程上,为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决工艺流程的问题,材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。
  • Nexsa赛默飞 Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 XPS
    Nexsa赛默飞 Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 XPS

    产品型号

    Nexsa

    厂商性质

    经销商

    更新时间

    2025-10-29

    浏览次数

    2771

    产品描述

    赛默飞 Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统能提供全自动、高通量的多技术分析,并可保持研究级结果的高质量水平。ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身,用户因此能够进行真正意义上的相关性分析,从而为微电子、超薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。
共 47 条记录,当前 7 / 10 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

总机:021-80394499

邮箱:shanghai@uzong.cn

地址:上海市闵行区春申路2328号张慕工业基地6号楼

关注公众号

版权所有 © 2026 上海禹重实业有限公司    备案号:沪ICP备13042218号-7

技术支持:化工仪器网    sitemap.xml

TEL:021-80394499

关注公众号